■パーティクルカウンタ
■CPC凝縮式カウンタ
（ナノ粒子測定）
■ATP検査測定器
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製品情報
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2010年6月1日
2010年5月末をもってドレーゲル製品の販売を終了することとなりました。
詳細に関しましては、本社・東京 各営業チームにお問い合わせ下さい。
2010年4月
TSI社製パーティクルカウンタにつきまして東アジア地域の日系企業への販売権を取得しました。
2009年11月25日
2009年11月末をもってPMS製品の販売を終了することとなりました。詳細に関しましては、本社・東京 各営業チームにお問い合わせ下さい。
2009年10月14日〜16日
食品開発展2009
＜出展情報＞
2009年9月
Ｈｙｇｉｅｎａ社製「ＡＴＰふき取り検査キット」新発売
ATPふき取り検査は、食品、医薬品、化粧品などの製造施設、外食産業や弁当、給食、食堂などの調理現場、病院、医療施設やホテル、学校など不特定多数の人間が交差する現場での導入が広がっています。
洗浄不良による2次感染や食中毒、手を媒介した交差汚染や菌・ウィルス感染などの予防の一環としてご使用頂ける迅速衛生検査ツールです。
2009年7月
ソナック株式会社は、2009年7月1日付けで連結親会社であるニッタ株式会社と合併しました。合わせて東京支店も移転しました。
2009年3月
アンモニア検知器 2009年3月新発売
複合光導波路方式を採用した簡易型アンモニア検知器をリリース。
検出下限値 ＜100 ppb、検知範囲 ＞2ppm 検知時間30秒（90%飽和時間）と最低限の仕様を網羅した超小型・高感検知器です。
モニタリングシステムグループは、奈良工場及び東京サービスセンタの２拠点で修理･校正作業に対応しています。海外製品で懸念されているアフターサービスにおいて、ニッタ（株）は従来より国内に独自で技術サービスセンタを置くことで、国内メーカ同様またはそれ以上のメンテナンスサービス体制を構築しています。
気中パーティクルカウンタ
半導体工場向け超微粒子測定器から自動車工場などの粗大粒子測定器と幅広く取り揃えています。
光散乱方式の気中パーティクルカウンタです。
清浄度多点集中監視システム
クリーンルーム内の清浄度測定は、リアルタイムに常時監視するのが最も良い方法です。パーティクルカウンタ1台で最大32ポイント可能なシステムとパーティクルセンサをポイント毎に設置する常時監視システムがあります。
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液中パーティクルカウンタ
純水、薬液に対応した液中パーティクルカウンタ。
ナノレベルのパーティクルからミクロレベルのパーティクルまで対応した製品を取り揃えています。
CPC凝縮式カウンタ（ナノ粒子測定）
CPCとは、通常の粒子カウンタでは測定できない超微粒子（ナノ粒子）を「粒子を大きく成長させる」ことで測定を可能にした測定器です。最小粒径は、2.5nm。
また、TSI社のCPCには、凝縮液にアルコールを使用するタイプと水を使用する画期的なタイプがあります。
ATPふき取り検査キット
ATP 測定方法は、結果がでるまでに24 時間以上も必要な従来の培養法に比べ、わずか十数秒でその場の清浄度を確認できることから、洗浄後の清浄度や衛生状態の判断を行う迅速衛生検査ツールとして、食品、医薬、医療、化粧品などの業界だけでなく、不特定多数の人々が交差するホテルや公共施設などの幅広い現場でも活用されています。
